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火05222012

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PICC DIGITAL - ISO14443 and ICAO

'PICCデジタル・テストスイート - ISO14443とICAO'

SOLIATISは、ISO14443（タイプA＆B）とICAOの仕様の«デジタル»部分を検証するためのテストスイートを提供しています。このテストスイートは、カードのエミュレーションモードで近接型ICカード（近接集積回路カード）およびNFCIP - 2デバイスに適用されます。

ISO 10373-6で定義されたテスト仕様です。以下、完全なるテストスクリプトを対応しております。：
識別カード - 試験方法 - 第6部：近接カード（dentification cards - Test Methods - Part 6: Proximity cards）
附属書G：その他の近接型ICカードの試験方法（ANNEX G: Additional PICC test methods）
２つのセクションレイヤ3のタイミングとフレーミングテストおよびISOレイヤー3/4のプロトコルテスト（次のICAOの仕様で定義）に準拠：
電子パスポート用のRFプロトコルとアプリケーションの試験規格 - パート2（RF PROTOCOL AND APPLICATION TEST STANDARD FOR E-PASSPORT - PART 2）
テスト上、«plain text»と« BAC-Basic Access Control »の附属書Bに定義されているコマンドを実行します。

テストスイートは、Soliatis社で開発されたSCRIPTIS Framework（ソフトウエア）をテストPCにインストールします。制限修正が必要なスクリプト以外のテスト及びレポート作成を致します。そして、テストや結果の分析を自動的に実行されます。
ユーザーは、このような立ち上がりエッジを、変調指数、フィールド、テストシーケンス、等に該当するものとしてのテストのすべての特性を制御できます。
テストスイートは、手動で校正を必要としません。リーダーライターのコマンドとリーダーの校正上のすべての測定は、オシロスコープによって制御されます。この機能は、フィールド電源、タイミングと屈折率変調の設定をカバーしています。
近接型ICカード用のアナログテストスイートは、リーダーからのトリガ機能を必要としません。 SOLIATISは、PCDコマンドとPICCの応答の自動トリガ機能を開発しています。この特定の機能では、リーダーの特性から独立して、すべての手動操作を避けるために実に効率的な方法を提供しています。

以下のリーダーのいずれか：