ハイライト

　・　カードメーカ、パーソナライザ、発行者に、ICCの電気およびプロトコルの性能を、半導体業界のテスト機器のコストのほんのわずかのコストで検証および分析する手段を提供します。
・　チップ障害が発生した場合、公式レベル1準拠テストの前、または製品品質管理の一部として、問題を解決するための詳細な分析が可能になります。
・　エンジニアリング分析：仕様制限内およびそれを超えるICCパフォーマンスの専門技術分析。
・　社内の品質管理とチップベンダー管理をサポートします。

機　能

〈電気的特性試験〉
カード上の各アクティブコンタクトの電流/電圧曲線がプロットされ、自動的に期待値と比較されます。このテストでは、ボンドワイヤの断線、短絡および断線、静電放電による入力回路の損傷、不良チップなどの欠陥を検出します。

〈プロトコルのタイミング〉
CET 3000は、すべてのタイミングの制御（マージン）を生成します。バイト内の個々のビット時間の変化が可能である。測定値はレポートに記録され、ロジックアナライザのディスプレイに表示されます。

〈ATR/messageテスト〉
コマンドを作成してカードに送信し、ICC応答を確認して表示することができます。 ICCに電源が投入され、テストメッセージが送信されます。 APDU / TPDU応答と同様に、コールド応答およびウォームアンサートリセット（ATR）応答が受信されて表示されます。

〈電気的マージン試験〉
電気マージンテストには、電源（Vcc）、クロック、リセットおよびI / O電圧、クロック周波数およびデューティサイクルのプログラム可能な値のセットでATR / Messageテストを繰り返すテストが含まれます。

〈電流モニタリングテスト〉
標準テストには、電源電流（Icc）の自動連続モニタリングが含まれます。スポット・チェックは、リセット、クロック（静的）およびI / Oラインで行われます。

〈Shmoo Plot /シュムープロットテスト〉
この強力な自動テストにより、任意の2つのパラメータ（Vccや周波数など）を選択した範囲（必要に応じてISO仕様外）で変更できます。 ATRおよびAPDUメッセージ応答は、各条件のセットで有効性がチェックされ、ICCの「動作エンベロープ」のプロットが生成されます。

〈Scripting/スクリプティング〉
オプションの開発者機能は、TCL（Tool Control Language）を使用したテストおよびアプリケーションスクリプト開発を提供します。これにより、CET 3000テストスクリプトの修正やテストプロセスへのユーザーアプリケーションの追加など、CET 3000によって実行されるテストを最大限に容易にカスタマイズすることができます。

〈Calibration/較正〉
キャリブレーションはユーザーが行うことができます。較正プロセスは、較正カードおよび少数の外部測定を使用するプログラム制御下で自動的に行われる。

〈豊富な機能〉
このツールを使用すると、テスト結果をデータベースに保存できます。リコールとバッチテスト機能を備えています。プログラム可能なテスト限界。スクリプト駆動型印刷可能レポート。グラフィック結果の表示およびカラー印刷;ログオン。ユーザの制御とログの使用。

動作環境

〈技術仕様〉
・　プロトコル：T = 0およびT = 1をサポート
・　クロック速度：200KHZ〜20MHZから選択可能
・　クロックデューティサイクル：30：70〜70：30の可変
・　電圧範囲：-0.3〜6v（1.8Vカード対応）
・　タイミング：カードの測定
・　ビットレベルまでの通信タイミング、最も近いクロックサイクル

〈ユーザーの柔軟性〉
・　制御パリティエラー注入とプロトコルタイミングを操作します。 テスト中にユーザーアプリケーションを実行する

〈ソフトウェア：OS〉
・　Windows XP（を含むWindows 7互換モード）

〈インタフェース
・　USB